der Arbeitskreis

Der DGM-Arbeitskreis "FIB-Anwendungen in der Materialographie" bietet eine Plattform für Kontakte zwischen Vertretern von wissenschaftlichen Institutionen, der Anwenderindustrie und der Gerätehersteller.

... stellt sich folgende Ziele



  • Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB) -Anwendungen in der Materialographie:

    • Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
    • Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
    • Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
    • Mikrobearbeitung (Micromachining)


  • Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung


  • Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern


  • Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit


  • Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten


  • Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller