Veranstaltungen des Arbeitskreises
6. Workshop "FIB-Anwendungen in der Materialographie"
Graz (Österreich), 02./03. Juli 2007 - organisiert von DGM, DGE, ASEM und SSOM
Thema:
- Theoretische und gerätetechnische Grundlagen der FIB-Technik (Methodenentwicklung/Wirkmechanismen/Schädigung)
- Anwendung der FIB-Technik für Materialuntersuchungen (Abbildung/Channeling-Kontrast/Tomographie/Materialprobleme)
- Zielpräparation für REM, TEM inklusive lift-out Techniken
- Mikrobearbeitung (Micromachining) & in-situ Manipulation.
5. Workshop "FIB-Anwendungen in der Materialographie"
Dieser Workshop des DGM-AK fand am 22./23. Mai 2006 im IFW in Dresden statt.
4. Workshop "Präparative Aspekte der TEM"
Oberkochen, 18. Mai 2005
- "Zielpräparation einer TEM-Probe aus einem metallographischen Schliff" (S. Jansen, D. Breuer, U. Mühle, Infineon/Dresden)
- "FIB-Präparationstechniken für die TEM-Dünnfilmpräparation von Kohlenstoff-Einzelfasern und C-Faserverbundwerkstoffen"
(H. Mucha, B. Wielage, Lehrstuhl für Verbundwerkstoffe/TU Chemnitz; T. Kato, Japan Fine Ceramics Center (JFCC )/Nagoya, Japan; S. Arai, H. Saka, Dept. of Quantum Eng., Nagoya University/Nagoya, Japan; K. Kuroda, Dept. of Materials Science and Eng., Nagoya University/Nagoya, Japan) - "FIB-Präparation und TEM-Analytik an Bondkontakten"
(U. Geißler, TU Berlin/Berlin; H.-J. Engelmann, AMD Saxony LLC & Co. KG/Dresden; I. Urban, H. Rooch, BAM/Berlin) - "Ionenstrahlpräparation von Proben für die Elektronenmikroskopie mit der RES 120" (W. Grünewald, BAL-TEC Innovations GmbH/Chemnitz)
- "TEM-Präparation mittels low-Voltage-FIB" (F. Altmann, Fraunhofer Institut für Werkstoffmechanik/Halle)
- "Nanoroboter für die sichere Probenmanipulation" (S. Kleindiek, Kleindiek Nanotechnik/Reutlingen)
3. Workshop "Präparative Aspekte der TEM"
Halle/Saale, 12. Mai 2004
- "TEM-Zielpräparation unter REM-Beobachtung mit der LEO-Crossbeam" (Dipl.-Ing. F. Altmann, IWM Halle/Saale) (pdf-Datei)
- "FIB-Zielpräparation kombiniert mit hochauflösender TEM-EELS-Analytik" (Dr. G. Kothleitner, TU Graz/Österreich) (pdf-Datei)
- "FIB-Schnitte an der Grenzfläche von biologischen Materialien und Werkstoffen: erste Ergebnisse" (Dr. C. Burkhardt, NMI Reutlingen) (pdf-Datei)
- "FIB: Fortschritte in der Mikro- und Nanoanalytik in den Geowissenschaften" (Dr. R. Wirth, GFZ Potsdam) (pdf-Datei)
- "TEM-Querschnittspräparation - einfach, schnell und preiswert" (Dr. E. Bugiel, Universität Hannover) (pdf-Datei)
2. Workshop "Präparative Aspekte der TEM"
Stuttgart, 21. Mai 2003
- "Fortschritte bei der Präparation von TEM-Querschnittsproben" (Dr. K. van Benthem, MPI-MF Stuttgart)
- "Anwendung der FIB in Materialwissenschaft und Fehleranalyse" (Dr. U. Sennhauser, EMPA Dübendorf/Schweiz)
- "Charakterisierung von tribologischen Kontaktflächen mit FIB und TEM" (Dr. W. Österle, BAM Berlin)
- "Automated polishing for TEM sample preparation" (Z. Shafrir, Sagitta)
- "In-situ lift-out von TEM-Lamellen mit kompakten Mikromanipulatoren in einem REM" (Dr. C. Burkhardt, NMI Reutlingen)
1. Workshop "Präparative Aspekte der TEM"
(Gründungsveranstaltung des DGM-Arbeitskreises)
Dresden, 15. Mai 2002
- "Lokale Materialbearbeitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Grundlegende Prozesse" (Dr. L. Frey, Universität Erlangen)
- "Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope" (Dr. C. Volkert, Max-Planck-Institut für Metallforschung Stuttgart)
- "Vor- und Nachteile der TEM-Probenpräparation mittels FIB" (Dr. H. J. Engelmann, AMD Saxony LLC & Co. KG Dresden)
- "Erfahrungen bei der Querschnittspräparation von Schichtwerkstoffen" (B. Arnold, Dr. H. D. Bauer, Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden)
- "FIB-Präparation von TEM-Proben mittels Nadelmanipulationstechnik" (F. Altmann, Fraunhofer-Institut für Werkstoffmechanik Halle/S.)